算力筑基,精准护航 邀您共赴 2026 湾芯展
2026 年 10 月 19 日
作者:测试测试 来源:测试测试 147 次浏览

测试测试邀您共赴 2026 湾芯展

超高精度三坐标测量方案
适用于:半导体、高精度传动部件、精密仪器等高精密检测领域
凭借封闭式框架搭配移动台式设计,超高的稳定性和优秀的机械素质,高性能控制系统+丰富的探测系统,适配半导体、核心传动部件等检测场景。
超高精度复合式影像检测
适用于:半导体、航天等领域的亚微米级精密检测
采用固定龙门结构,热稳抗震,动态精度高,1nm分辨率光栅尺,亚微米级重复定位可靠;集成光学、白光共聚焦与接触式传感器,适应透明、反光、微小特征测量。
工业CT无损检测方案
适用于:半导体制造、汽车、航空航天、医疗器械等多个行业,覆盖从微观到宏观的检测需求
整机采用全花岗岩机身与高精度控制系统,搭配 0.1μm 超高分辨率光栅尺,成像稳定、测量可溯源;支持多种扫描模式,焦距可调,可检测产品内部裂纹、装配偏差等缺陷,服务光学封装、电子制造等领域。
三维干涉光学轮廓仪
适用于:晶圆镭射槽测量、芯片凸点共面性检测、薄膜厚度与图形尺寸测量等半导体与微电子封装
设备融合白光干涉、共聚焦与景深技术,实现亚纳米级纵向分辨率,可获取表面粗糙度、台阶高度等关键参数,无损完成跨尺度三维形貌重构,适用于晶圆镭射槽测量、芯片凸点共面性检测、薄膜厚度与图形尺寸测量等检测场景。
从晶圆制造的纳米级形貌管控,到先进封装的内部缺陷透视,再到核心零部件与工装的高精度尺寸验证,海克斯康凭借精密计量设备与深度行业解决方案,为半导体产业链各环节提供可溯源、高精度的质量支撑。诚邀各位行业同仁莅临交流,共探半导体精密计量新可能,共筑产业高质量发展新生态。
展会时间:2026年10月14日-10月16日
展会地点:深圳会展中心(福田)1 号馆 ******
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